JEM-2100 - аналитический электронный микроскоп, включающий не только базовый просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) для получения электронно-микроскопических изображений и электронограмм, но также и систему компьютерного управления, в которую может интегрироваться устройство наблюдения изображения в режиме просвечивающего растрового электронного микроскопа (ПРЭМ), энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (JED-2300) и электронный спектрометр потерь энергии (СПЭ) в любой комбинации.
Особенности JEM-2100:
- Высокая стабильность пучка. Высокая стабильность высокого напряжения и тока пучка вместе с превосходной электронно-оптической системой позволяет получать разрешение 0,19 нм (по точкам) при 200 кВ (с LaB6 катодом)
- Новая конструкция шасси колонны. Новая конструкция шасси колонны существенно снижает влияние вибраций на прибор
- Аналитический электронный микроскоп. В энергодисперсионной системе микроанализа применен новый детектор, сконструированный для работы при телесном угле сбора 0,28 стерад и угле сбора 24,1, что позволяет производить высокоточный анализ и быстрый набор данных микроанализа
- Столик образцов. Новый гониометрический столик образцов дает возможность осуществлять точное перемещение образца в нанометровой шкале
- Возможность модернизации
- Основная компьютерная система позволяет осуществлять управление и сбор данных в режиме ПРЭМ, ЭДС-микроанализа и СПЭ, сохраняя при этом простоту управления всем аналитическим комплексом. Полученную информацию также можно передать по локальной сети на другие персональные компьютеры для дальнейшей ее обработки
| Возможные конфигурации (пользователем выбирается одна конфигурация из перечисленных при заказе прибора) | сверхвысокое разрешение (URP); высокое разрешение (HRP); большие углы наклона (HTP); высокий контраст (HCP) |
| Тип эмиттера | LaB6 (гексаборид лантана) |
| Разрешение по точкам HRP | 0,23 нм |
| Разрешение по точкам URP | 0,19 нм |
| Разрешение по точкам HTP | 0,25 нм |
| Разрешение по точкам СRP | 0,27 нм |
| Разрешение по точкам HCP | 0,31 нм |
| Разрешение по линиям | 0,14 нм |
| Просвечивающий сканирующий режим | опция |
| Ускоряющее напряжение | 80, 100, 120, 160, 200 кВ |
| Шаг ускоряющего напряжения | 50 В |
| Диапазон увеличений | от 2 000х до 1 500 000х |
| Возможные аналитические методы (опции) | прямое изображение; дифракция в сходящемся пучке; дифракция от нанообласти; просвечивающая сканирующая микроскопия; энергодисперсионный микроанализ; спектроскопия характеристических потерь; трёхмерная томография; деформация, нагрев и охлаждение образца |
| Порты для ПЗС- и ТВ-камер | порт бокового ввода под проекционным блоком линз и нижний осевой порт снизу фотокамеры |