Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7500F
JSM-7500F – растровый электронный микроскоп высокого разрешения с возможностью анализа углеродных наноматериалов и диэлектрических композитов на их основе без напыления проводящих покрытий на поверхность образца за счёт работы микроскопа в низковольтном режиме «Gentle Beam» (торможение электронов перед образцом и снижение энергии первичного пучка до 100 эВ). В JSM-7500F используется особый электростатический фильтр внутри объективной линзы (r-фильтр) для фильтрации по энергии регистрируемых электронов. С помощью этого фильтра обеспечивается формирование сигнала изображения SE, BE, SE+BE с управляемой пропорцией долей отражённых и вторичных электронов.
Микроскоп может быть укомплектован системой энергодисперсионного микроанализа производства фирмы JEOL.
- Характеристики
| Тип источника электронов | полевой эмиттер |
| Пространственное разрешение | 0,1 нм |
| Энергия электронного луча | от 100 эВ до 30 кэВ |
| Увеличение | до 1 000 000 |
| Ток луча | от 1 пА до 2 нА |
| Детекторы | “верхний” детектор, “нижний” детектор, детектор отраженных электронов |
| Аналитические приставки - опция | система энергодисперсионного микроанализа, система текстурного анализа поликристаллических образцов |
| Максимальный размер образца | до 203 мм в диаметре (предлагается в соответствие с запросом) |
| Столик образцов | моторизован по всем 5-ти координатам в базовой конфигурации |
| Система вакуумной откачки | турбомолекулярный насос |
| Система шлюзования | обязательно включена (необходима консультация с поставщиком для правильного подбора) |